Bedrade Dual TecĀ® PIR met anti-mask
- Plug-in elektronica
- Afsluitweerstanden (EOL)
- Looptest met zaklamp
- Spiegeloptiek
- Antimask
- Hoogste beveiligingsgraad
- Infrarood antimask-technologie
- Uitgebreid detectiedekking
- Professioneel ontwerp
- Gepatenteerd PIR-signaalanalyse
- Gepatenteerde kruipzone-oplossing
- Gepatenteerde zelftest
- Gepatenteerde oplossing tegen trillingen
- Gepatenteerde montage-oplossing